シールドケーブルの試験方法をご存知ですか？
シールドケーブルのシールド減衰を測定するには、漏洩法と浸透法の 2 つの方法があります。
1. 漏洩方式は、同軸ケーブル内に強力な電磁界を発生させる方式です。ケーブルのシールドが不十分なため、ケーブルの内部導体と外部導体間の強い電磁場が外部導体の隙間から漏れる可能性があります。漏洩電界強度は、ケーブルのシールド減衰を特徴付けるために測定され、吸収クランプ法では漏洩法が使用されます。
2. 貫通方法は、試験対象のケーブルを均一な電磁場に置くことです。ケーブルの外部導体にはギャップがあるため、電磁場はギャップを通ってケーブルの内部に侵入します。浸透磁界強度を測定すると、ケーブルのシールド減衰の特性を評価することもできます。電磁適合性測定装置の開発により、均一な横電磁場を生成できる GTEM チャンバーがケーブルのシールド減衰の測定に使用されています。この測定法はGTEMチャンバー法と呼ばれるもので、透過法に属し、吸収クランプ法より複雑です。ただし、GTEM チャンバー法の測定範囲は DC ～ 1GHz であり、吸収クランプの測定範囲よりも広いです。理論的には、GTEM チャンバーが生成できる電磁界強度は入力信号電力にのみ関係しており、パワーアンプが十分に大きい限り、高い電磁界強度を生成できます。これにより、GTEM チャンバー内のシールド減衰の測定感度が大幅に向上します。
